Próbkujący wykrywacz metali IB

[maciej_333]

Męczę się z wykonaniem i zrozumieniem patentu US4030026. Mam już opracowaną znaczną cześć tego urządzenia, jednak w oparciu o współczense rozwiązania.

W urządzeniu tym chodzi o dosyć specyficzne próbkowanie sygnału odebranego impulsami wytworzonymi w momencie przejścia sygnału wysyłanego przez zero (rys. 6). Sygnał odebrany należy wzmocnić (w moim przypadku wzmocnienie jest selektywne) i przesunąć o kąt theta. Na stronie 8 w okolicy wiersza 35 piszą, że cewki sondy są tak zrobione, że same z siebie dają przesunięcie o ok. 5 stopni (u mnie to jakieś 40 stopni + przesunięcie wzmacniacza selektywnego i filtru wejściowego - obwód rezonansowy) i właśnie o tyle przesunąć trzeba przesuwnikiem fazowym sygnał odebrany w układzie 24 (w jakim kierunku ?). Wtedy składowa urojona ma być niby zerowa w chwili próbkowania (to jest pewnie tzw. balans gruntu ?). Z rysunku 6 wynikałoby też, że sygnał odebrany V musi być jeszcze przesunięty o 180 stopni, ale to nie jest problem i można to zrobić cewkami (ustawienie względem siebie), lub wzmacniaczem.

Z rysunków 2A i 2B wynika, że sygnał z układu próbkująco-pamiętającego (S&H) ma regulowaną wartość (potencjometr 198). Przesunięcie fazowe też się dobiera. Wynika też z tekstu i schematów ideowych, że sygnał 28 (blok REF w module 30) to właściwie amplituda sygnału odebranego.

Kolejnym etapem jest odjęcie sygnałów 27 i 28 (rys. 1 - blok 40). Co od czego się odejmuje ? Potrafi ktoś wyjaśnić jak użytkownik ma ustawić przesunięcie fazy i wartość sygnału z układu S&H ? Potrafi też ktoś zinterpretować wykresy wskazowe ?

Mam wykonaną sondę DD zamiast skomplikowanego układu podanego w patencie. Sygnał ze wzmacniacza odejmującego będę stosował do modulacji częstotliwości generatora RC. Ponadto dyskryminację będę się starał jakoś dodać w oparciu o sygnał 27, lub coś w tym stylu. Pozostaje jeszcze cała masa innych problemów. Może wogóle wycofać się z tego układu, póki się jeszcze da ?